L’A.S.B.L. PromOptica organise une journée de rencontre entre PME et centres de recherches (édition 2004). Les invités fourniront des fardes de présentation de leurs activités.

Le mercredi 21 avril 2004

ADRESSE DU JOUR :

TECHNIFUTUR - Centre de compétences
Parc Scientifique du Sart-Tilman - à la Cense Rouge
Rue du Bois Saint-Jean, 15 - 17
4102 SERAING (Liège)

PROGRAMME :

• dès 13h30 : accueil des participants + café;
   
• 14h00 : mot de bienvenue du président, M. Robert PIRLET;
   
• 14h15 : présentation de Technifutur Mme MERTENS, directrice, et visite des locaux;
   
• 15h15 : présentation de 3 nouveaux membres:
  • SCK-CEN Belgian Nuclear Research Center
    
  • CENTEXBEL Centre Scientifique et Technique de l’Industrie Textile Belge
    
  • HEBP Haute Ecole Blaise Pascal – Département Gradués en Electromécanique
     
• 16h15 : café ;
   
• 16h30 : présentation de 3 autres nouveaux membres: à définir
   
• 17h30 : discours de clôture et verre de l’amitié.

INVITATION A TOUS LES MEMBRES ET SYMPATHISANTS

Journées d’étude et exposition
Optique et Vision industrielle

Les 20 et 21 janvier 2004

Informations générales et bulletin d'inscription ici (fichier au format pdf)

Université catholique de Louvain
Louvain-la-Neuve
Auditoire Sud 01, Place Croix du Sud

Marché d’affaires de la vision en Europe
Capter, convertir, mémoriser et analyser des images
Sécurité d’accès des locaux
Authentification de documents et d’oeuvres d’art
Contrôle de l’état de surface
Mesures dimensionnelles
Contrôle de qualité

Programme

Mardi 20 janvier 2004

8H30 Accueil des participants
9H00 Allocution de bienvenue, Ch. Eugène
Une nouvelle association européenne est née : l’EMVA, R. Pirlet

9H15 Rapport introductif
- The European Vision Market – a 20-year perspective. Have revenues passed their peak while unit sales continue to increase ?
D. Braggins, Machine Vision Systems Consultancy, UK

9H45 Session 1 - Capter, convertir, mémoriser et analyser des images
Ch. Eugène

- Imaging Projects at the University of Twente,
P. Regtien, University of Twente, NL

10H25 Café et visite de l’exposition

11H05 Suite de la session 1

- Traitement d’image et vision par ordinateur à l’Institut Montefiore : Stratégie et applications,
J. Verly, J. Piater et M. van Droogenbroeck, ULg, B

- Comparaison entre détecteurs CCD et CMOS,
Cl. Jamar, CSL, B

- Analyse du trafic routier par caméras intelligentes,
J.-F. Delaigle et Ch. Chaudy, Multitel, B
B. Macq, UCL, B

12H20 Déjeuner et visite de l’exposition

14H30 Session 2 - Sécurité d’accès des locaux. Authentification de documents et d’œuvres d’art
A. Monfils

- Vidéo surveillance digitale,
A. Ghaye, Euresys, B

- Reconnaissance des empreintes digitales,
Ph. Lemaire, CSL, B

- Applications de l’optique aux documents de sécurité,
M. Salade, BNB, B

15H45 Café et visite de l’exposition

16H30 Suite de la session 2

- Hologrammes de sécurité,
H. Souparis, Hologram Industries, F

- IR Reflectography and Color Acquisition
Sig.ra R. Fontana, Ateliers de restauration de Florence, IT

17H20 Cocktail et visite de l’exposition

Mercredi 21 janvier 2004

9H00 Session 3 - Contrôle de l’état de surface
G. Loultcheff

- Contrôle de planéité de surface par interférométrie à transformée de Fourier,
R. Déchenaux, LOT-Oriel, F

- New Paradigm for Inspection : Laser Scanning versus Single Point Measurements,
R. van Cauter, Metris, B

- Systèmes spécialisés pour l’inspection de produits continus à grande vitesse,
M. Longrée et J. Léonard, Centexbel, B

- Principes et applications de l’interférométrie par radar à synthèse d’ouverture,
D. Derauw et Ch. Barbier, CSL, B

10H40 Café et visite de l’exposition

11H20 Session 4 - Mesures dimensionnelles
R. Pirlet

- 100 % In-line Metrology with Vision – far more than a non-contact coordinate measuring machine,
D. Braggings, Machine Vision Systems Consultancy, UK
Z. Horvath, Falcon Vision, HU

- Mesures ambulatoires de grandeurs dimensionnelles par triangulation laser sous éclairage structuré,
Ch. Eugène et M. Demeyere, Centre de Recherche en Mécatronique, UCL, B

12H10 Déjeuner et visite de l’exposition

14H10 Suite de la session 4

- Contrôle des matériaux granulaires par analyse d’images,
E. Pirard, Occhio, B

- Mesure de formes par relevé interférométrique de courbes de niveau,
A. Cornet, Laboratoire d’optique appliquée, UCL, B

- 3D-Laser Scanning Techniques : from Architectural Survey to Microprofilometry,
Sig.ra R. Fontana, Ateliers de restauration de Florence, IT

15H25 Café et visite de l’exposition

16H00 Session 5 - Contrôle de qualité
Y. Renotte

- Etat de l’art de l’holographie dynamique : systèmes appliqués à la métrologie et au contrôle non destructif,
M. Georges, Optrion, B

- Le concept neuronal et son apport dans les techniques d’interprétation de situation,
M. Hauzeur, Rovi-Tech, B

16H50 Conclusions des journées, Y. Renotte
17H15